半导体的检测与分析是一个介于基础研究与应用研究之间的设计内容很广而又不断蓬勃发展的领域，在半导体材料的研究中，电阻率，载流子密度和迁移率是测试的关键参数。目前对半导体材料进行物理和化学研究的方法有很多，如透射电镜、拉曼光谱、电化学C-V、X射线双晶衍射等。

安泰测试科技通过相应的测试仪器和搭配的测试软件，可提供覆盖了量子材料、超导材料、半金属材料、纳米材料、薄膜材料、绝缘材料等大部分的半导体测试方法和应用。能够快速的帮您解决实验和研究中的测试问题。

对于低电阻和微小电阻的测试，安泰测试科技为您推荐吉时利的＋A的搭配。

：4pA~mA峰峰值交流电源，短至5uS的可编程脉宽，搭配A使用时，可用于最窄50uS的脉冲I-V。A：15nV超低底噪的7.5digits万用表，量程支持10mV~V

Delta模式：

Delta模式能准确测量低电压和小电阻。将和A正确连接后，用户只用按下电流源的Delta按钮，再按下Trigger按钮，就能启动测试。和A能无缝地配合工作并能通过GPIB接口（的GPIB或以太网接口）进行控制。

租赁直流电源＋A纳伏表测试低电阻和微小电阻方案

仪器组合拓扑示意图，使用触发线缆连接，以及RS交叉线连接与A，做主机，A做从机，使用GPIB或者LAN口与PC端连接，进行二次开发或者程控

配置二＋A

为高精度源表，支持50pA~7A电流输出，支持最小50uS脉宽输出，亦可使用B系列源表代替。

测试接线拓扑图

-TLink触发线缆

A支持RS接口与GPIB接口，支持USB，LAN，GPIB接口，需要分别程控A与，该搭配亦支持手动操作,GPIB线缆推荐使用KUSB-B